金属学及金属工艺论文_X射线荧光光谱测定银铜
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【摘要】:文章目录 前言 1 实验部分 1.1 主要仪器 1.2 分析线条件选择 1.3 实际样品测量 2 结果与讨论 2.1 两种标准校准曲线的原理 2.1.1直接校正法 2.1.2二元比例法 2.2 用于工作曲线样品的制备 2.3文章目录
前言
1 实验部分
1.1 主要仪器
1.2 分析线条件选择
1.3 实际样品测量
2 结果与讨论
2.1 两种标准校准曲线的原理
2.1.1直接校正法
2.1.2二元比例法
2.2 用于工作曲线样品的制备
2.3 工作曲线的选择
2.3.1直接校正法制作Ag元素含量的工作曲线
2.3.2直接校正法制作Cu元素含量的工作曲线
2.3.3二元比例法制作工作曲线。
2.4 精密度
2.5 结果对照
3 结论
文章摘要:本文建立了X射线荧光光谱测定银铜合金中的银,选择不同的标准校准曲线:直接校正法和二元比例法,比较了两种实验结果。实验表明二元比例法优于直接校正法,方法稳定性好、抗干扰能力强、相对标准偏差(RSD)小于0.31%,检测结果与原子吸收光谱法(AAS)一致。
文章关键词:
论文DOI:10.19574/j.cnki.issn1672-7665.2022.01.011
论文分类号:TG115.33
文章来源:《法制博览》 网址: http://www.fzblzz.cn/qikandaodu/2022/0111/1611.html